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測試測量

電子負載應用于檢測設備測試中

隨著電子市場的發(fā)展，其前景是毋庸置疑的，而與之相輔相生的電子測量儀表儀器設備也得以廣泛應用。就在LED驅(qū)動、電源模塊測試、充電器生產(chǎn)及UPS生產(chǎn)等領域廣泛使用的直流電子負載而言，其已經(jīng)成為了這些領域必不可少的測試設備。

2012-10-31

電子負載檢測設備測試

如何測試小型存儲器陣列

隨著半導體工藝不斷地進步，那些原本存在芯片中的大型存儲器會轉(zhuǎn)變成數(shù)十或數(shù)百個小型的存儲器陣列，并且散布在芯片中各個角落。針對這種類型的小型陣列，如果想要偵測出與速度相關的瑕疵以及固定邏輯(stuck-at)故障，其實并不是一件容易的事。

2012-10-31

測試小型存儲器陣列

相互調(diào)變失真的測量方法

在發(fā)射(Tx)路徑上的相互調(diào)變失真是附加在高功率之中，它的特性很重要。由于在發(fā)射路徑上一般都沒有主動組件存在，因此它的相互調(diào)變失真特性被稱為“被動的相互調(diào)變失真(passive IMD;PIMD)”。當設計一個無線通信電路時，PIMD在每一個功能單元中的變化不大，所以，在研發(fā)階段就會先測量PIMD。

2012-10-31

相互調(diào)變失真測量方法

是什么影響電阻和電阻率測試

影響電阻或電阻率測試的主要因素有：環(huán)境溫濕度、測試電壓、測試時間、測試設備的泄漏以及外界干擾等。本文重點談談上述五大因素。

2012-10-31

影響電阻電阻率測試主要因素

VIO的開環(huán)測試電路

輸入失調(diào)電壓(VIO)是電壓比較器(以下簡稱比較器)一個重要的電性能參數(shù)，GB/T 6798－1996中，將其定義為“使輸出電壓為規(guī)定值時，兩輸入端間所加的直流補償電壓”。傳統(tǒng)測試設備大都采用“被測器件(DUT，Device Under Test)－輔助運放”的測試模式。

2012-10-31

VIO 開環(huán)測試電路

TI推出新型SoC：簡化設計、降低成本

TI推出新型智能電表SoC，可使開發(fā)人員針對智能電子電表應用簡化設計、提高彈性與降低系統(tǒng)成本。它結(jié)合3個獨立引擎的完全集成式解決方案，計量引擎可達到0.5%的電表等級準確度，并支持單相或三相電表。

2012-10-31

TI SoC 智能電表

聚焦新能源汽車與工業(yè)應用第十二屆高能效設計研討會圓滿結(jié)束

在汽車、工業(yè)等領域，低功耗的設計已經(jīng)不能滿足市場的需求，高效的設計才能讓產(chǎn)品脫穎而出！但是過壓、過熱、系統(tǒng)老化、操作行為的問題層出不窮，怎樣考慮才能獲得高效的設計呢？在第十二屆高能效設計研討會上，TI專家?guī)淼腂MS解決方案，豐寶電子專家?guī)鞱XP最新的MCU解決方案在能源高效利用中的實...

2012-10-31

高能效設計研討會新能源